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邏輯虛電路性能測試
完成了物理層和幀中繼設置測試之后，基本上確保了幀中繼物理和邏輯平臺的可用性。此時需要針對這一虛電路進行性能測試。這一測試從原理上來說類似于物理層的誤碼率測試，只是在幀中繼層的一條邏輯虛電路上進行的。用戶需要指定虛電路的DLCI編號，設置發(fā)送數(shù)據(jù)的速率，并在電路的遠端設置PVC 的環(huán)回。測試儀在指定PVC上模擬產(chǎn)生幀中繼流量，測試下列參數(shù)：幀丟失率（小于<0.2%）、數(shù)據(jù)傳輸率(符合合同租用速率)、傳輸時延（小于10ms）等。如果各項指標都合格，表明被測虛電路在測試時間內(nèi)性能合格。如果某些指標不合格，需要進一步在端至端電路中間的各個轉(zhuǎn)接點依次做環(huán)回測試，以定位故障點。
IP 層測試
幀中繼網(wǎng)絡只是為數(shù)據(jù)傳輸提供了一個平臺。目前在該平臺上傳輸?shù)牡湫蜆I(yè)務是基于IP 的應用。因此，在確保物理層和幀中繼層沒有問題之后，還應進行基本的IP 層測試，其中最常用的就是IP Ping 測試。IP Ping測試的結果將給出Ping丟失率，時延和相關錯誤信息。在此，邏輯虛電路對端的IP地址（如果已設置）是通過（ARP／RARP）方式獲取的。實際上，幀中繼的傳輸平臺對IP 應用是透明的，所以對IP層其他更深入的測試方法都可以直接使用。
以上測試指標合格后，該幀中繼鏈路即可投入使用。
測試案例
我們來看一下某商業(yè)銀行2M幀中繼鏈路的測試過程，網(wǎng)絡拓撲見圖2。
該銀行的金海分理處通過16端口的PDH設備接入廣電的機房B，連接ATM設備的2/3端口，銀行總行以同樣的方式接入機房A。將測試儀（本文以FLUKE660幀中繼測試儀為例）按圖1所示接入網(wǎng)絡中，也就是圖2中商行總行的路由器前。在金海里分理處的路由器前進行物理打環(huán)。
圖2 某商業(yè)銀行網(wǎng)絡拓撲圖
圖3 測試儀通訊軟件窗口
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